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Microscopio de Fuerza Atómica NX12

Descripción La plataforma AFM más versátil para sus necesidades microscópicas a nanoescala

– Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) para adquisición de imagen a resolución nanométrica con

capacidad de medición de propiedades eléctricas, magnéticas, térmicas, y mecánicas.

– Sistema de escaneo con pipetas, para alta resolución de Scanning Ion Conductance Microscopy

(SICM).

– Microscopio óptico invertido (IOM, por sus siglas en inglés) para investigación con materiales

transparentes e integración de microscopio fluorescente.

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