Microscopio de Fuerza Atómica NX12
Descripción La plataforma AFM más versátil para sus necesidades microscópicas a nanoescala
– Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) para adquisición de imagen a resolución nanométrica con
capacidad de medición de propiedades eléctricas, magnéticas, térmicas, y mecánicas.
– Sistema de escaneo con pipetas, para alta resolución de Scanning Ion Conductance Microscopy
(SICM).
– Microscopio óptico invertido (IOM, por sus siglas en inglés) para investigación con materiales
transparentes e integración de microscopio fluorescente.
